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手動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)PX 4168
SEM納米探針臺(tái)PX 4168
ZP3-4 微納探針臺(tái)PX 4168
定制半導(dǎo)體材料測量設(shè)備氣氛型高溫探針臺(tái)PX 4632
PS4/PS8Prober Shuttle PS8PX 4327
錦正茂多維磁場探針臺(tái)半導(dǎo)體材料測試儀器PX 4632
定制高低溫真空環(huán)境探針臺(tái) 錦正茂科技PX 4632
定制多維磁場實(shí)驗(yàn)裝置半導(dǎo)體材料測試探針臺(tái)PX 4632
氣氛型高溫探針臺(tái)材料電學(xué)光學(xué)測試實(shí)驗(yàn)臺(tái)PX 4632
真空探針臺(tái)高低溫測試實(shí)驗(yàn)臺(tái)材料測試霍爾PX 4632
KT-0904T-RL小型真空高低溫探針臺(tái)PX 3149
KT-Z160T-RL高低溫真空探針臺(tái)PX 3149
KT-0904T-RL迷你型真空高低溫探針臺(tái)PX 3149
KT-Z4019MRL4T小型真空探針臺(tái)PX 3149
超低溫真空半導(dǎo)體制冷臺(tái)PX 3149
KT-Z165M4RT多功能手動(dòng)探針臺(tái)PX 3149
10μm探針臺(tái)微型真空探針臺(tái)PX 3149
定制三維磁場探針臺(tái)半導(dǎo)體工業(yè)測試實(shí)驗(yàn)臺(tái)PX 4632
室溫探針臺(tái)實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測試儀器光學(xué)平臺(tái)PX 4632
氣氛型高溫探針臺(tái)真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測試PX 4632
HCS621GXY通用顯微冷熱臺(tái)PX 3667
磁場探針臺(tái) 多維磁場半導(dǎo)體測試設(shè)備PX 4632
高低溫真空探針臺(tái)測試系統(tǒng)鍍金無氧銅樣品臺(tái)PX 4632
多維磁場探針臺(tái)測試系統(tǒng)無磁材質(zhì)半導(dǎo)體測試PX 4632
氣氛型高溫探針臺(tái) 測試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器PX 4632
T8-LY100錦正茂科技定制高低溫探針臺(tái)PX 4632
T8-LY100高??蒲袑?shí)驗(yàn)室高低溫探針臺(tái)半導(dǎo)體測試儀器PX 4632
T8-LY100高低溫探針臺(tái)用于傳感器半導(dǎo)體光電測試設(shè)備PX 4632
JZM-D30半導(dǎo)體材料測量儀器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)PX 4632
T8-LY100實(shí)驗(yàn)室使用 高低溫真空磁場探針臺(tái)PX 4632
非標(biāo)定制高低溫真空探針臺(tái) 測試系統(tǒng)PX 4632
T8-500-3真空磁場探針臺(tái)測試系統(tǒng)半導(dǎo)體測試PX 4632
LH-TTPX桌面型低溫探針臺(tái)物理測量高精度設(shè)備PX 2729
LH-CPX連續(xù)流探針臺(tái)半導(dǎo)體芯片測試設(shè)備PX 2729
LH-CRPS-VF超導(dǎo)垂直磁場低溫探針臺(tái)芯片測試儀PX 2729
LH-CRPS-10K閉循環(huán)低溫探針臺(tái)芯片測試支持定制PX 2729
CRPS-5K真空閉循環(huán)低溫探針臺(tái)光學(xué)探針設(shè)備PX 2729
GCP110射頻探針PX 2632
GCP50射頻探針PX 2632
GCP40射頻探針PX 2632
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
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組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
桌面型探針臺(tái)入門級(jí)探針測試臺(tái)
桌面型低溫探針臺(tái)物理測量高精度設(shè)備
連續(xù)流探針臺(tái)半導(dǎo)體芯片測試設(shè)備
超導(dǎo)垂直磁場低溫探針臺(tái)芯片測試儀
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Prober Shuttle PS8
射頻探針
迷你型真空高低溫探針臺(tái)
藍(lán)岸探針臺(tái)FA系列
0.7μm射頻探針座
高頻探針臺(tái)(支持220G升級(jí))
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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