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KDKLT-1高頻光電導(dǎo)壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀(學(xué)校用)PX 3141
GDW3-LT1C高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/高頻光電壽命測試儀PX 3141
GDW3-LT100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀/高頻光電壽命測試儀 τ:1~6000μs ρ>0.1Ω?cm PX 3141
WCT-120少子壽命測試儀PX 0
KDKLT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測試儀(測單晶)PX 3141
單晶少子壽命測試儀 LY.4-LT-3PX 0
高頻光電導(dǎo)壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀(學(xué)校用) 型號(hào):ZH8202PX 2968
高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀(學(xué)校用)型號(hào):KDKLT-1PX 2968
少子壽命測試儀型號(hào):ZH8202PX 2968
DP-LT-2單晶少子壽命測試儀 少子壽命測試儀PX 4824
DP-LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀/少子壽命測試儀PX 4824
AA54-LT-2型單晶少子壽命測試儀PX 0
AODJ-LT-3硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀 單晶少子壽命測試儀PX 0
HAD-100A微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測試儀/少子壽命測試儀 PX 2842
KDK-LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 PX 2842
MHY-14354食品安檢測儀PX 2852
HS-MWR-SIM無接觸少子壽命測試儀PX 0
JC503-LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀 少子壽命測試儀PX 3650
DLY-2型 DSY-II型 FJDY-I導(dǎo)電類鑒別儀 單晶少子壽命測試儀 非接觸硅片電阻率測試儀PX 0
少子壽命測試儀PX 0
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
非接觸式晶錠電阻率測試儀
微波法少子壽命
Freiberg Instruments MDPspot少子壽命測試儀
美國Sinton WCT-120+Suns-Voc少子壽命測試儀器
少子壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)
MDPspot少子壽命測試儀
MDPlinescan在線少子壽命測試儀
光電少子壽命測試儀
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營許可證
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